Maud - Materials Analysis Using Diffraction v 2.26

автор **кардинал** Пн Янв 17, 2011 4:09 am

[Вы должны быть зарегистрированы и подключены, чтобы видеть это изображение]

Maud поддерживает материальный анализ, используя дифракцию.
Это - общая diffraction/reflectivity аналитическая программа, главным образом основанная на методе Rietveld, но не ограниченная этим методом.

Главные особенности:
Написанный на Java может работать на Windows, MacOSX, Linux, Unix (необходима Java VM 1.5 or later)
Работа с рентгеном, synchrotron, Neutron, TOF
Различные доступные алгоритмы оптимизации (LS, Evolutionary, Simulated Annealing, Metadynamics)
Le Bail fitting
Количественный анализ фазы
Анализ микроструктуры (size-strain, anisotropy and distributions included)
Суперлёгкий алгоритм для электронных карт плотности
Работы с изображениями дифракции TEM и электронного рассеивания
И много других особенностей......

Официальный сайт: [Вы должны быть зарегистрированы и подключены, чтобы видеть эту ссылку]

Размер:

Скачать версию для windows(20,4 Мв):

[Вы должны быть зарегистрированы и подключены, чтобы видеть эту ссылку]

Скачать версию для Mac OS X(20,3 Мв):

[Вы должны быть зарегистрированы и подключены, чтобы видеть эту ссылку]

Скачать версию для Linux/Unix9(20,6 Мв):

[Вы должны быть зарегистрированы и подключены, чтобы видеть эту ссылку]

автор Аксандр Пт Мар 04, 2011 9:47 pm

Кто работает с MAUD, подскажите, как загружать структурный файл?
Файл данных это просто ASCI, а этот? По инструкции это cif файл, но программа не принимает. Я, скорее всего, что то не так делаю...
Буду рад поделиться какими то другими знаниями в XR.javascript:emoticonp(' Laughing

')

Maud - Materials Analysis Using Diffraction v 2.26

$Maud - Materials Analysis Using Diffraction v 2.26 Empty$ Maud - Materials Analysis Using Diffraction v 2.26

$Maud - Materials Analysis Using Diffraction v 2.26 Empty$ MAUD